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    RTR 25DE/15DE 双面卷对卷直写光刻系列


    业界领先的卷对卷双面直写光刻解决方案,引领高精度引线框架制造。双面同时曝光设计保证双面图案高度一致性和对准精度。该系统采用DMD技术,通过高精度的资料解析能力,最小可实现25μm精细线路及优异的线宽一致性和边缘粗糙度,在保证高品质的同时,可降低整体运行成本。

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    产品特点

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    无掩模直写曝光

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    自动纠偏

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    双面同时曝光

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    气动涨紧上料

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    适应多种尺寸规格需求

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    支持多种数据格式(GDSⅡ/Gerber/ODB++)

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